北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司現(xiàn)推出測樣服務(wù)：

一、設(shè)備型號：

  日本電子JCM-7000臺式掃描電鏡

二、原理

       SEM的工作原理是用一束極細(xì)的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關(guān)，也就是說與樣品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān)，次級電子由探測體收集，并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘枺俳?jīng)光電倍增管和放大器轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘杹砜刂茻晒馄辽想娮邮膹姸龋@示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)。

三、性能

1.×10～100000，直接放大倍率；24~202168，顯示放大倍率。

2. 0～30光學(xué)放大。

3.儀器搭配背散射電子探測器，二次電子探測器，EDS能譜分析儀。

4.元素測試范圍B（5）-U（92）

5.能譜性能：分辨率不低于129eV(MnKα)，有效面積：30mm2。

另附元素激發(fā)能量表（臨界）

四、服務(wù)項目

1．金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導(dǎo)體、紙張、塑料、食品、農(nóng)作物等材料的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析。

2．各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定性和定量檢測；金屬材料牌號的確定。

3．機械零部件、電子元器件失效分析。

4．粉末、微粒納米樣品形態(tài)和粒度的測定。

5．復(fù)合材料界面特性的研究。

6．表面微量污染物、異物及其來源分析。

7．表面鍍層成分、鍍層厚度與結(jié)構(gòu)分析。

五、送樣需知

1.不導(dǎo)電樣品需做噴金處理，不額外提供制樣服務(wù)。

2.樣品尺寸不大于50mm(H)x80mm(D)

噴金效果比對：

六、其他

1. 可提供“低真空”（20Pa）、“電荷減輕模式”（60Pa）條件下的樣品測試。
2. 可提供元素分析報告（點、線、面）。

注：低真空環(huán)境有利于對不導(dǎo)電的樣品進(jìn)行直接觀測，同時可避免部分樣品由于真空條件導(dǎo)致的損壞，下圖為低真空模式對樣品測試的示意圖：

樣品：名片

1000x，未噴金的名片，放電明顯，無法觀測有效信息。

2200x，低真空模式，部分區(qū)域放電明顯，成像質(zhì)量較噴金樣品差區(qū)別明顯

1000x，減輕電荷模式，放電效果進(jìn)一步減輕，可觀測部分表面形貌

10000x，噴金后的名片，成像質(zhì)量高，細(xì)節(jié)信息豐富。

七、應(yīng)用領(lǐng)域及分析案例

  陶瓷、高分子、粉末、環(huán)氧樹脂、地質(zhì)、冶金、礦物、污泥（桿菌） 、機械、電機及導(dǎo)電性樣品，如半導(dǎo)體(IC、線寬量測、斷面、結(jié)構(gòu)觀察 ）電子材料等。

八、聯(lián)系方式

王經(jīng)理：15948310202

郵箱：rocky.wang@peakscience.cn