SM相關(guān)產(chǎn)品：JSM-7800F    領(lǐng)域：磁性材料樣品的解析

利用超級(jí)混合式物鏡（SHL）分析磁性材料樣品

新開(kāi)發(fā)的用于低加速電壓下高分辨率觀察的物鏡SHL，與迄今為止的通用型高分辨率觀察所使用的半浸沒(méi)式 物鏡不同，它通過(guò)靜電場(chǎng)和磁場(chǎng)疊加控制了磁場(chǎng)的泄漏，實(shí)現(xiàn)了高分辨率觀察。因此，很適合于以往半浸沒(méi) 式物鏡難以進(jìn)行的磁性材料樣品的高分辨率觀察以及電子背散射衍射(EBSD)分析。下面是對(duì)磁性材料樣品的 高分辨率觀察結(jié)果和EBSD測(cè)試結(jié)果。
磁鐵礦納米顆粒的高分辨率觀察結(jié)果

樣品:磁鐵礦納米顆粒,磁性材料納米顆粒在1 kV的,加速電壓下的觀察結(jié)果。即便是磁性材料的樣品,

在低加速電壓條件下也能很容 易地進(jìn)行高分辨率觀察。資料提供: 阿尻雅文教授 日本東北大學(xué) 多元材料科學(xué)研究所

釹磁鐵的EBSD測(cè)試結(jié)果

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